# 2024年新品發(fā)布會#

日期：2024年9月29日

時(shí)間：8：30-18：30

近期我司新推出升級了SHASHIN寫真化學(xué)原裝供應(yīng)紅外透射膜厚儀

紅外透射膜厚度監(jiān)測器可測量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。 它是一種紅外吸收涂層測厚儀，可應(yīng)用于從實(shí)驗(yàn)室級別到生產(chǎn)過程中的在線檢查的所有情況。

它是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過同時(shí)測量 100 多個(gè)波長的光譜儀，準(zhǔn)確測量薄膜厚度、密度、成分等多個(gè)參數(shù)。

1測量半透明片材、

低反射膜、硅等的厚度，這在光學(xué)干涉測量法中是困難的

2微型光纖探頭

由于使用了 30 毫米的小型反射探頭，

它可以安裝在設(shè)備或生產(chǎn)線的狹小空間內(nèi)。

此外，由于探頭僅通過

光纖連接到主機(jī)，因此具有出色的耐環(huán)境性。

3高速測量：

在

100 個(gè)點(diǎn)或更高處同時(shí)采樣 950~1650 nm 的近紅外波長

可實(shí)現(xiàn)短至 1 毫秒的高速采樣。

可以在生產(chǎn)線上進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測和測量。

由于干涉濾光片不旋轉(zhuǎn)，因此具有出色的耐用性和可靠性。